連續光源背景校正

2）連續光源背景校正（The continuum-source correction method）切光器使銳線源和氘燈源交替進入原子化器。然后分別測定吸光值： A銳=A+AB   A氘=a+AB=AB  則     A=A銳-AB=A銳-A氘  式中a為基態原子對連續光源的吸光值，因待測原子濃度很低，相對而言，a可勿略。

評論：盡管很多儀器均帶有這種扣背景裝置，但其性能并不理想！主要原因包括，①連續光源和切光器可降低S/N；②原子化焰中氣相介質和粒子分布不均，對兩個光源的排列要求極高；③大多儀器裝配的D燈不適于可見光區（I太小）。 

3）塞曼效應背景校正（Background correction based on the Zeeman effect）

a）Zeeman效應：原子蒸汽在強磁場（～10 kG）作用下，各個電子能級會進一步分裂，即 每條譜線進一步分裂（從2S+1條分裂成2J+1條）的現象(n2S+1LJ—— n2S+1 L2J+1)。分裂的譜線間波長差很小，約為0.01nm。

b）校正原理：Zeeman背景校正是根據磁場將（簡并的）譜線分裂成具有不同偏振特性的成份。對單重線而言，分裂成振動方向平行于磁場的π線（波長不變）和垂直于磁場的±ζ線（波長增加或降低，并呈對稱分布）由譜線的磁特性和偏振特性來區別被測元素吸收和背景吸收。