測物基態原子不吸收參比線

粒子散射：一些高濃度的元素，如Ti，Zr，W的氧化物，它們的氧化物具有分餾效應且直徑較大，可對光產生散射；有機溶劑的不完全 燃燒產生的微粒碳也會對光產生散射。 消除：更換燃氣（如用N2O）；改變測量參數（T，燃助比）；

加入輻射緩沖劑(Radiation buffer。如果知道干擾來源，可在標準液和樣品中加入同樣且大量的干擾物質)。 

非火焰背景干擾      非火焰的電熱原子化（石墨爐）中產生的背景干擾，通常要比火焰原子化的干擾嚴重。  

采用石墨爐平臺技術（Platform technology）、高新石墨材料、快速測光計和Zeeman背景校正等方法可將石墨爐背景干擾降低到和火焰背景干擾相同的水平。 下面將詳細討論幾種背景校正方法。

1）鄰近線背景校正（The two-line correction method）  參比譜線選擇：參比線與測量線很近（保證二者經過的背景一致）

測物基態原子不吸收參比線。

參比線是待測原子的非共振線或元素燈內惰性氣體元素的譜線。

因為共振線（此時為分析線）的總吸光度AT包括基態原子的吸收A和背景吸收AB，即AT=A+AB  通過測量共振線旁的"鄰近線"的吸收，得到AB此時得到凈吸收度A=AT-AB   由于很難找到符合上述條件的"鄰近線"，故此法應用較少。