集成電路測試儀概念及分類

計量校準集成電路測試儀是對集成電路進行測試的專用儀器設備。

集成電路測試是保證集成電路性能、質量的關鍵手段之一。

集成電路測試技術是發展集成電路產業的三大支撐技術之一，因此，集成電路測試儀作為一個測試門類受到很多國家的高度重視。

40年來，隨著集成電路發展到第四代，集成電路測試儀也從初測試小規模集成電路發展到測試中規模、計量校準大規模和超大規模集成電路，到了八十年代，超大規模集成電路測試儀進入全盛時期。

目前各大芯片的生產廠商一般都擁有自己的芯片測試系統，一般都在芯片出廠前檢測出芯片的基本性能參數。

但是作為一般企業運用集成電路芯片進行設計電路或高校實驗室用芯片，并不關心集成芯片內部的構造，關心的就是所用芯片的邏輯是否正確和如何得知未知芯片的型號。

而市場上工業運用的集成芯片檢測不僅價格高，而且并不實用。

概述硬件電路 包括單片機模塊、鍵盤輸入模塊、芯片檢測模塊計量校準,顯示模塊,單片機模塊主要用來處理芯片檢測模塊采集來的數據，通過與真值表的比較判斷處芯片的好壞與型號。

鍵盤模塊用于輸入被測芯片的型號。

芯片檢測模塊用于被測芯片接收和發送信號。

顯示模塊用于顯示被測芯片的好壞、邏輯符號、邏輯表達式和芯片型號。

按集成電路分類：數字集成電路測試儀和模擬集成電路測試儀

按功能分類：集成電路功能測試儀和集成電路參數測試儀

按形式分類：便攜式集成電路測試儀和臺式集成電路測試儀